Life Test

Vieillissement accéléré des composants électroniques

Le test de vieillissement accéléré (ou Life test) est essentiel pour déterminer la fiabilité dans le temps des composants électroniques pour vos contextes spécifiques

Avec le Life Test, les composants subissent un cycle de vieillissement accéléré caractérisé par le type de contraintes (température, pression, cyclages thermiques, humidité…), sa durée, les mesures effectuées pendant le vieillissement, les mesures intermédiaires. Une caractérisation du composant à température ambiante ou à plusieurs températures est effectuée à T0 (avant le démarrage du vieillissement). Ensuite, les composants seront extraits de l’étuve de vieillissement à intervalles réguliers (par exemple 200 heures) et subiront de nouveau une caractérisation.

Objectif : déterminer la fiabilité dans le temps

Une opération de Life Test permet de couvrir les besoins suivants :

Vérifier l’absence de dérive de paramètres électriques définis dans le temps ;
Déterminer la tenue des brasures dans le temps ;
Déterminer le mode de défaillance d’un composant ;
Vérifier la fonctionnalité d’un composant pendant la durée prévue de sa mission dans un environnement comparable à son profil de mission.

Ces dernières pourront être utilisées comme base pour déterminer la fiabilité du système.